News

Workshop sulla Microscopia a Scansione, ROMA 20 e 21 Maggio 2014

Pubblicata Mer, 9 Aprile 2014

Aspetti teorici e applicativi della microscopia elettronica e della microanalisi (microXRF, TOF SIMS, PLASMA FIB)

Gambetti Kenologia Srl, Tescan Orsay Holding, Bruker Nano e Renishaw, sono lieti di invitarla al Workshop dedicato alla Microscopia Elettronica a Scansione (SEM) e alle relative tecniche micro e nano analitiche, che si terrà con programma identico il 20 e 21 Maggio prossimi presso Hotel Mercure EUR West di Roma.

Per maggiori informazioni ed iscriversi;

Archivio

NUOVO Plasma RIE - TUCANO XL
Pubblicata Lun, 18 Maggio 2020

EMRS 2020 Spring meeting
Pubblicata Lun, 10 Febbraio 2020

ISPC24 24th International Sympsium on Plasma Chemistry
Pubblicata Mer, 6 Febbraio 2019

Il PlasmaPro100 Polaris vince l'industry award!
Pubblicata Mer, 15 Marzo 2017

Nuovo reattore al plasma Colibrì 2016
Pubblicata Ven, 18 Novembre 2016

Nuovo reattore al plasma Tucano 2016
Pubblicata Dom, 6 Novembre 2016

Oxford Instruments lancia il nuovo processo per la crescita di MoS2
Pubblicata Lun, 4 Luglio 2016

Oxford Instruments 2D Materials Processing Technology Workshop
Pubblicata Ven, 25 Marzo 2016

GraphITA 2015
Pubblicata Ven, 24 Aprile 2015

Workshop on dry processing for Nanoelectronics and Micromechanics: deposition and etching Oxford Instruments Plasma Technology and Forschungszentrum Jülich
Pubblicata Dom, 19 Aprile 2015

OIPT Process News Letter
Pubblicata Gio, 10 Luglio 2014

The future of Graphene and other 2D materials
Pubblicata Ven, 2 Maggio 2014

Workshop sulla Microscopia a Scansione, ROMA 20 e 21 Maggio 2014
Pubblicata Mer, 9 Aprile 2014

GGK-CS14 Controlla manualmente le nostre matching network automatiche con alimentatori RF di altri produttori
Pubblicata Mar, 18 Febbraio 2014

Workshop alla Cornell University
Pubblicata Ven, 26 Luglio 2013

19th International Vacuum Congress IVC-19 - September 9-13
Pubblicata Gio, 4 Luglio 2013

Nuovo Sito online
Pubblicata Mer, 3 Luglio 2013