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News

Workshop sulla Microscopia a Scansione, ROMA 20 e 21 Maggio 2014

Pubblicata Mer, 9 Aprile 2014

Aspetti teorici e applicativi della microscopia elettronica e della microanalisi (microXRF, TOF SIMS, PLASMA FIB)

Gambetti Kenologia Srl, Tescan Orsay Holding, Bruker Nano e Renishaw, sono lieti di invitarla al Workshop dedicato alla Microscopia Elettronica a Scansione (SEM) e alle relative tecniche micro e nano analitiche, che si terrà con programma identico il 20 e 21 Maggio prossimi presso Hotel Mercure EUR West di Roma.

Per maggiori informazioni ed iscriversi;